PCT高壓加速試驗箱是用於測試半導體封裝之濕氣能力，待（dài）測產品被置於嚴苛之（zhī）溫度、濕（shī）度及壓力下測（cè）試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入（rù）封裝體，多層線路板,光伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材（cái）料,高分子（zǐ）材料等產品之密封（fēng）性能的檢測,測試（shì）其製品的耐壓性（xìng）,氣密性。

浙（zhè）江PCT高壓加速老化試驗箱（xiāng）供應（yīng）商產品是用於測試半導體封裝之濕氣能力，待（dài）測產品被（bèi）置於嚴苛之（zhī）溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿（yán）者（zhě）膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，多層線路（lù）板,光伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等產品之密（mì）封性（xìng）能的檢（jiǎn）測,測試其製品的耐壓性,氣密（mì）性。

杭（háng）州PCT高壓加速老化/加速壽命試驗箱是用於測試半導體（tǐ）封（fēng）裝之濕氣能力，待測產品被置（zhì）於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體（tǐ）或膠體與導線架（jià）之接口滲入（rù）封裝（zhuāng）體（tǐ），多層（céng）線路板,光（guāng）伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁（cí）性材料,高分子材料等產品之密封性能的檢測,測試其製品的耐壓性,氣密性。

PCT高壓加速老化/加速壽命試驗箱是用於測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置於嚴苛之溫度（dù）、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體（tǐ）或膠體與導線架之接口滲入封裝體，多（duō）層線路板,光伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分（fèn）子材料（liào）等產品之密封性能的（de）檢測,測試其製品的耐壓性,氣密性。